環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，試樣制備簡單。它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。
 

　　環(huán)境掃描電鏡的應(yīng)用范圍：
 

　　1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導(dǎo)體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析。
 

　　2、各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定量檢測。
 

　　3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度測定。
 

　　4、機(jī)械零件與工業(yè)產(chǎn)品的失效分析。
 

　　5、鍍層厚度、成分與質(zhì)量評定。
 

　　6、刑偵案件物證分析與鑒定。
 

　　7、新材料性質(zhì)的測定和評價。
 

　　8、在生物、醫(yī)學(xué)和農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用。
 

　　環(huán)境掃描電鏡在材料領(lǐng)域的具體應(yīng)用：
 

　　1、材料表面形貌的觀察：通過掃描電子顯微鏡我們可以觀察材料的表面形貌。
 

　　2、斷口形貌的觀察：通過掃描電鏡我們可以進(jìn)行材料的斷口形貌的觀察，借助掃描電鏡分析斷口的破壞特征、零件內(nèi)部的結(jié)構(gòu)及缺陷，從而判斷零件損壞的原因。
 

　　3、微區(qū)化學(xué)成分分析：在樣品的處理過程中，有時需要提供包括形貌、成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向在內(nèi)的豐富資料，以便能夠更全面、客觀地進(jìn)行判斷分析。為此，相繼出現(xiàn)了掃描電鏡—電子探針多種分析功能的組合型儀器。掃描電鏡如配有X射線能譜(EDS)和X射線波譜成分分析等電子探針附件，可分析樣品微區(qū)的化學(xué)成分等信息。